W dzisiejszych czasach szybki rozwój technologii zaawansowanych technologii, jako podstawowy element sprzętu elektronicznego, wydajność i jakość układów są bezpośrednio związane z konkurencyjnością i wydajnością rynkową produktów.
Jednak przy ciągłym postępie procesów półprzewodnikowych i rosnącej złożoności funkcji ChIP, sposób upewnienia się, że każdy układ może spełniać rygorystyczne wymagania dotyczące wydajności i niezawodności, stało się głównym wyzwaniem dla producentów ChIP. W tym kontekście testy na poziomie systemu wywołały rewolucyjne przełom w polu testowania ChIP z jego kompleksowym i symulowanym środowiskiem testowym.
1. SLT: Nowy punkt odniesienia do testowania chipów
Testy na poziomie systemu, jak sama nazwa wskazuje, jest metodą kompleksowego testowania miarowych układów (DUT) w symulowanych scenariuszach używania terminalu. W porównaniu z tradycyjnym automatycznym urządzeniami do testowania (ATE), SLT nie ogranicza się już do testu pojedynczych modułów funkcjonalnych lub struktury obwodu układu, ale uważa układ jako cały system, który weryfikuje współpracę współpracującą i ogólną wydajność modułów Uruchamiając rzeczywisty program programu i systemu. Ta metoda testowa jest bardziej zbliżona do faktycznego doświadczenia użytkownika i może znaleźć potencjalne problemy, które są trudne do uchwycenia w teście ATE, w ten sposób znacznie poprawiając niezawodność i zadowolenie użytkownika układu.
2. Rdzeń siły SLT
Kompleksowe ubezpieczenie:Symulując prawdziwe scenariusze aplikacji, SLT kompleksowo testuje wszystkie funkcjonalne moduły układu, aby upewnić się, że każdy szczegół nie zostanie pominięty.
Skuteczna symulacja:Korzystając z zaawansowanej technologii symulacji i urządzeń testowych, SLT może symulować złożone środowisko użytkowania terminalu, w tym różne interfejsy peryferyjne, systemy operacyjne i oprogramowanie do aplikacji, dzięki czemu test był bardziej zbliżony do rzeczywistości.
Głęboki wgląd:SLT nie tylko koncentruje się na wydajności sprzętu układu, ale także koncentruje się na testu interakcji oprogramowania i sprzętu, który może znaleźć potencjalne problemy we współpracy sprzętu i oprogramowania oraz zapewnić cenne dane do optymalizacji projektu układu.
Popraw niezawodność: poprzez testy długoterminowe i wysokie obciążenie, SLT może ujawnić wydajność układu w ekstremalnych warunkach i skutecznie oceniać stabilność i niezawodność jego długoterminowego zastosowania.
GRGTEST koncentruje się na technologii analizy awarii obwodów, z wiodącym w branży zespołem ekspertów i najbardziej zaawansowanym sprzętem serii GA FIB na rynku. Może zapewnić klientom kompletne usługi analizy awarii i testowanie, pomagając producentom szybko i dokładnie lokalizować awarie i znaleźć podstawową przyczynę awarii.